[发明专利]一种功率半导体器件瞬态热敏电压测试装置在审
| 申请号： | 202210248392.8 | 申请日： | 2022-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN114755549A | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 余寿豪;韦文生;宋慧慧;莫越达 | 申请（专利权）人： | 温州大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R15/14;G01R19/00 |
| 代理公司： | 温州名创知识产权代理有限公司 33258 | 代理人： | 陈加利 |
| 地址： | 325000 浙江省温州市瓯海*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种功率半导体器件瞬态热敏电压测试装置，包括低噪声直流稳压电源、测试条件产生电路、信号采样及处理电路和主控及输入/输出电路；低噪声直流稳压电源提供稳定直流电压；测试条件产生电路给被测功率半导体器件进行预热处理，之后迅速中和被测功率半导体器件中的少数载流子，并进行热敏处理后产生瞬态热敏电压差；信号采样及处理电路对瞬态热敏电压差进行采集、放大及转换；主控及输入/输出电路将瞬态热敏电压差进行显示，以及实现对测试条件产生电路所需的加热电流/热敏电流脉冲的产生、幅度与加热时间以及中和电流脉冲的控制。实施本发明，具有电路结构简单，操作简单，受外界环境变化而造成干扰较小，波形稳定等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 瞬态 热敏 电压 测试 装置 | ||
【主权项】：
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