[发明专利]空间分析测量系统和方法在审
| 申请号： | 202210248782.5 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN114706095A | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 费德里科·科尔拉特邦迪;西比·普利卡赛里尔 | 申请（专利权）人： | 博莱佳私人有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S17/02;G01S7/483;G01C3/08 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 陆建萍;杨明钊 |
| 地址： | 澳大利亚新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及空间分析测量系统和方法。在一种布置中，所描述的系统包括：光源，被配置为提供在多个波长信道中选择的一个波长信道处具有至少一个时变属性的出射光，该至少一个时变属性包括(a)时变强度分布和(b)时变频率偏差中的任一个或两个；光束定向器，被配置为在空间上在二维的多个方向中的一个方向上将出射光引导到具有空间分布的环境中，该多个方向中的一个方向对应于多个波长信道中所选择的一个波长信道；光接收器，被配置为接收由环境反射的出射光的至少一部分；以及处理单元，被配置为确定与反射光的至少一个时变属性相关联的至少一个特性，以估计与多个方向中的相应的一个方向相关联的环境的空间分布。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 分析 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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