[发明专利]基于光谱辨析技术的自准直绝对测角方法及系统有效
| 申请号： | 202210252324.9 | 申请日： | 2022-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN114705136B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 吴冠豪;周思宇 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G02B5/18 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 刘美丽 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于光谱辨析技术的自准直绝对测角方法及系统，该方法包括：光频梳将含有多个纵模的光脉冲发射到光纤环形器；经光纤环形器导入的光脉冲经光纤准直镜发射到光栅，通过所述光栅衍射后产生一组具有不同衍射角的一阶衍射光束；当光栅法线与入射光束的夹角改变时，具有一定光谱宽度的入射光束通过光栅衍射后部分纵模分量能够重新耦合进入光纤准直镜并发射到光纤环形器；通过对光纤环形器导出的光梳光谱分量的辨析实现光栅法线与入射光束之间的夹角测量。本发明将光栅对衍射光束光谱的操控与光频梳的频域特性有机结合，将角度变化转换为光频梳光谱成分变化，通过对光谱幅频特性的辨析，完成入射光束与光栅法线夹角的绝对测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光谱 辨析 技术 绝对 方法 系统 | ||
【主权项】：
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