[发明专利]激光扫频测距装置及方法在审
| 申请号： | 202210254755.9 | 申请日： | 2022-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN114646940A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 纪荣祎;潘映伶;高超;董登峰;张滋黎;王国名;崔成君;周维虎 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01S7/483 | 分类号： | G01S7/483;G01S7/481;G01S17/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种激光扫频测距装置及方法，装置包括激光器、电光调制器、分光棱镜、第一探测器、第二探测器、模拟鉴相器、测量控制电路和调制频率源，激光器用于发出激光信号，电光调制器用于对激光信号进行强度调制以输出调制信号，分光棱镜将调制信号分为两路，一路由第一探测器接收，产生参考信号；另一路被被测目标返回并经分光棱镜反射后由第二探测器接收，产生测量信号；模拟鉴相器用于检测参考信号与测量信号的相位差；测量控制电路用于对调制频率源的输出频率进行扫频控制，产生按照预设步长变化的高频调制信号，并反馈至电光调制器，还用于通过检测零相位差信号确定两个相邻的调制频率，根据两个相邻的调制频率计算被测目标的测量距离。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 测距 装置 方法 | ||
【主权项】：
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