[发明专利]基于神经网络的GaN JBS二极管器件性能预测方法在审

专利信息
申请号: 202210258348.5 申请日: 2022-03-16
公开(公告)号: CN114692491A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 段小玲;马浩;王树龙;张进成;张金风;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F30/27 分类号: G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 代理人: 惠文轩
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及微电子器件技术与人工智能技术领域,具体涉及基于神经网络的GaN JBS二极管器件性能预测方法。本发明充分利用神经网络深度学习根据数据自动提取特征的特点,将其应用于GaN JBS二极管器件性能的预测,从而快速预测器件性能,并根据预测结果调整输入结构来优化器件特性;弥补了传统器件仿真和实验测试方法周期长、效率低、耗时耗力的不足,快速便捷地建立起由GaN JBS二极管器件结构与性能指标之间的关联,能够加速GaN JBS二极管性能预测的研究,降低预期性能指标下器件结构的设计难度。
搜索关键词: 基于 神经网络 gan jbs 二极管 器件 性能 预测 方法
【主权项】:
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