[发明专利]一种适用于推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测方法在审
| 申请号： | 202210259802.9 | 申请日： | 2022-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN114942070A | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 刘成玉;李春来;金健;徐睿;刘世界;陈小文;金海军;何志平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J5/48;G01J5/53 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测方法，涉红外高光谱遥感领域。所要解决的是推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测问题。该方法步骤如下：(1)黑体数据获取；(2)基于黑体数据盲元检测；(3)基于盲元掩膜的数据修复；(4)基于红外高光谱成像数据自身闪元检测与数据修复。本发明充分利用红外高光谱数据的光谱连续特性，实现红外高光谱成像仪的盲元检测，是一种高效率的、准确性好的、稳定的红外高光谱成像仪的盲元检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 推扫式 红外 光谱 成像 检测 方法 | ||
【主权项】：
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