[发明专利]高精度散斑及其制备优化和应变测量方法在审
| 申请号： | 202210270297.8 | 申请日： | 2022-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN114563251A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 朱明亮;陈蓉;胡孝凯;庄彬彬;王宇超;轩福贞 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01B11/16;G01N3/06;G01N3/08 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种高精度散斑及其制备优化和应变测量方法，制备与优化方法包括以下步骤：确定与试样适配的散斑尺寸，并选取所述尺寸的含散斑的纳米金‑水溶液；将试样加工至与所述散斑尺寸适配的试样尺寸，并对所述试样的表面进行预处理；经由所述含散斑的纳米金‑水溶液获得含散斑的纳米金‑乙醇溶液；将含散斑的纳米金‑乙醇溶液滴涂在所述试样的表面，并蒸发乙醇溶液；待所述试样的表面乙醇溶液蒸发后，重复上一步，直至获得恰当的散斑分布密度，制备获得高精度散斑。本申请通过优化方法，可以高效的提升散斑图像质量，获得高精度的材料表面应变场分布云图。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 及其 制备 优化 应变 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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