[发明专利]一种基于直接成像的轻量型云粒子现场测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210279233.4 申请日: 2022-03-21
公开(公告)号: CN114663273B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 刘磊;王鹏;刘西川;曾庆伟 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06T1/20 分类号: G06T1/20;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194;G06T7/155;G06T7/80;G06T15/00;G01N21/53
代理公司: 北京东方盛凡知识产权代理有限公司 11562 代理人: 张换君
地址: 410003 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提出一种基于直接成像的轻量型云粒子现场测量方法及系统,该方法的特征在于:采用非相干光源作为成像光源,该成像光源汇聚在图像传感器的景深处,形成云粒子三维采样空间;通过FPGA实现图像传感器短曝光,当采样空间内有云粒子时,照明光束与云粒子发生米散射作用,粒子前向散射光在图像传感器上生成云粒子图像;基于DSP实现云粒子图像实时采集与处理;建立云粒子图像像素点与实际尺度的定标关系;基于二值形态学方法,分析云粒子图像,获取云粒子特征参数。本发明实现了云粒子无接触成像,且具有质量轻、成本低、功耗小、环境适应性强等特点,在云降水物理研究、云参数遥感产品检验等领域有着广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 基于 直接 成像 轻量型云 粒子 现场 测量方法 系统
【主权项】:
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