[发明专利]电路可靠性仿真方法及对应的步长计算方法、存储介质

摘要

本发明公开了一种电路可靠性仿真方法及对应的步长计算方法、存储介质。其中电路可靠性仿真的步长计算方法，包括：设置初始步长；从第i个步长开始，根据电路的当前退化率在第i‑1个步长上进行递进运算得到所述第i个步长，所述递进运算的公式为hi=hi‑1*(1+A/前一时刻的退化率)，A为预设的加速系数，i≥2；当第i个步长大于预设的最大步长hmax时，则停止步长递进运算，此时第i个步长被赋值为最大步长。本发明基于退化率来设置递进式步长，在达到仿真精度的同时降低了运算量。