[发明专利]三维测量系统及其校正方法在审
| 申请号： | 202210285541.8 | 申请日： | 2022-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN116255929A | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 李哲睿;黄暐翔;高彩龄;李俊毅 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 徐协成 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种三维测量系统及其校正方法，该方法包括：投影装置投射结构光至参考物件，其中参考物件包括第一校正平面及第二校正平面，摄像装置拍摄参考物件以取得至少一参考物件图像，在至少一参考物件图像中，处理器执行解码运算以取得至少一参考物件图像的多个相位数据，处理器依据这些相位数据运算对应于第一校正平面的第一相位及对应于第二校正平面的第二相位，处理器计算第一相位及第二相位之间的平面相位差，并依据平面相位差及第二校正平面相对于第一校正平面的高度执行运算，以取得一相位高度转换系数。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 系统 及其 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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