[发明专利]CAM单元检查模块及其检查方法在审
| 申请号： | 202210288757.X | 申请日： | 2022-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN114649049A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 方斗敬 | 申请（专利权）人： | 东芯半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44;G11C29/50 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 邓晔 |
| 地址： | 201799 上海市青浦区徐泾*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及CAM单元检查模块及其检查方法，所述CAM单元检查模块用于对NAND存储器中的CAM单元进行检查，包括：读取电平设定部，该读取电平设定部基于预先存储的CAM单元读取电平表来设定CAM单元读取电平；特殊读取命令执行部，该特殊读取命令执行部基于所设定的所述CAM单元读取电平，执行特殊读取命令；状态检查部，该状态检查部响应于所述特殊读取命令，进行所述CAM单元的数据读取，并判定所述CAM单元的状态是通过还是失败，在所述特殊读取命令下，所读取的所述CAM单元的数据仅用于所述状态检查部进行所述CAM单元的状态的判定。 | ||
| 搜索关键词： | cam 单元 检查 模块 及其 方法 | ||
【主权项】：
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