[发明专利]一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法在审
申请号: | 202210310900.0 | 申请日: | 2022-03-28 |
公开(公告)号: | CN114813743A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 李龙;杨芸;陈翠丽;孙宏飞;李婷婷 | 申请(专利权)人: | 嘉兴市磁海无损检测设备制造有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/00;G01N27/84 |
代理公司: | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 翁斌 |
地址: | 314211 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,包括步骤S1:通信模块上电后与双目黑光灯进行第一通信连接并且与测量终端进行第二通信连接,通信模块自动判断是否分别与双目黑光灯和测量终端通信连接成功。本发明公开的一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法,其利用双目黑光灯代替人眼进行图像采集,并通过通信模块传送到测量终端,测量终端设有专用图像接收单元,并有专用缺陷尺寸测量的图像测量单元进行图像缺陷选取并进行尺寸测量,从根本上减少人力成本的投入,同时也避免工人长期工作在UV‑A环境下,降低了身体产生职业性疾病的风险。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 双目 黑光 缺陷 尺寸 自动 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于嘉兴市磁海无损检测设备制造有限公司,未经嘉兴市磁海无损检测设备制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210310900.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。