[发明专利]杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法在审

专利信息
申请号: 202210316864.9 申请日: 2022-03-29
公开(公告)号: CN116929864A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 侯瑞祥;李昊坤;李昕伟;曲树璋;郑萃;王伟 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中石化(北京)化工研究院有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N23/2276;G01N23/2273;G01N23/2202;G01N23/2258
代理公司: 北京知舟专利事务所(普通合伙) 11550 代理人: 郭韫;周玉玲
地址: 100027 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明属于材料分析技术领域,为解决标样材料限制待测材料的技术问题,提供一种单位面积杂质沾污量与杂质浓度随深度半定量分布的测量方法,制备定量样品与待测样品:定量样品采用能通过标样来剖析杂质浓度随深度定量分布的材料;待测样品与待测材料为同一种材料;定量样品与待测样品经历完全相同的处理工艺,使定量样品单位面积引入的杂质数量与待测样品相等;通过标样得到定量样品中目标杂质浓度随深度定量分布,积分运算后得到目标杂质的单位面积沾污量Q1,计算目标杂质在待测样品中的信号强度积分值Q2;计算转换系数k=Q1/Q2;通过转换系数k将目标杂质信号强度随深度分布的曲线函数g(x)转换为目标杂质浓度随深度半定量分布函数h(x)。
搜索关键词: 杂质 沾污 浓度 深度 定量 分布 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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