[发明专利]一种用于薄壁盘类锻件无损检测缺陷的尺寸规则化方法及其应用在审

专利信息
申请号: 202210320770.9 申请日: 2022-03-29
公开(公告)号: CN116930446A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 李昂;吴福;张毅;陈开媛;高蔚 申请(专利权)人: 核工业理化工程研究院
主分类号: G01N33/2045 分类号: G01N33/2045
代理公司: 天津创智睿诚知识产权代理有限公司 12251 代理人: 李薇
地址: 300000 *** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种用于薄壁盘类锻件无损检测缺陷的尺寸规则化方法及其应用,所述用于薄壁盘类锻件无损检测的缺陷尺寸规则化方法,包括以下步骤:首先,对薄壁盘类锻件进行无损检测,确定内部缺陷平行于盘面内的径向、切向投影尺寸及位置,经过约化处理后,获得缺陷不同方向的最大边界尺寸L;然后,根据缺陷所处位置对缺陷进行分类,判断缺陷位置的流线是否发生拐折,最后根据是否拐折以及最大边界尺寸计算得出薄壁盘类锻件的缺陷尺寸。本发明的用于薄壁盘类锻件无损检测缺陷的尺寸规则化方法,能够有效地对薄壁盘类锻件内部缺陷进行尺寸规则化及评价,也是一种辅助薄壁盘类锻件质量验收的通用方法。
搜索关键词: 一种 用于 薄壁 锻件 无损 检测 缺陷 尺寸 规则化 方法 及其 应用
【主权项】:
暂无信息
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