[发明专利]一种双头探针测试装置在审
| 申请号： | 202210321193.5 | 申请日： | 2022-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN116930702A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 胡咏兵 | 申请（专利权）人： | 东莞新科技术研究开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/067 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 麦小婵 |
| 地址： | 523087 *** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种双头探针测试装置，包括探针部、盖合在探针部上表面的盖板部、以及连接在探针部下表面的电路板；探针部的开设有用于放置待测器件的测试凹槽，测试凹槽底部开设有若干探针通孔，探针通孔贯穿测试凹槽底部和探针部的下表面；在各探针通孔内设有双头探针；电路板的上表面上设有若干与探针通孔一一对应的焊盘；双头探针的第一端向测试凹槽的底部上方延伸出来，以使待测器件在测试凹槽内时压紧双头探针的第一端，双头探针的第二端抵住对应的焊盘。本发明实施例提供的双头探针测试装置，通过设计组合式的盖板部、探针部和电路板，优化了测试装置的具体结构，完善了探针的正常使用与更换过程，进而保障了半导体封装测试的精度与效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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