[发明专利]光学器件的形成方法在审

专利信息
申请号: 202210325681.3 申请日: 2022-03-30
公开(公告)号: CN116931171A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 殷霞革;冯霞;陈晓军;张冬生;吴家亨 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G02B6/136 分类号: G02B6/136;G02B6/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种光学器件的形成方法,包括:提供衬底,所述衬底包括耦合区;在所述衬底上形成第一介质层;在所述耦合区上的第一介质层内形成初始波导沟槽;在所述第一介质层表面和所述初始波导沟槽内形成图形化层,所述图形化层暴露出至少部分初始波导沟槽底部;以所述图形化层为掩膜,刻蚀所述第一介质层,以形成位于所述衬底上的波导结构,所述波导结构包括位于所述耦合区上的波导末端结构。所述半导体结构的形成方法提升了小尺寸波导的制成工艺稳定性,降低了光传播过程中的耦合损耗,提升了光传播效率。
搜索关键词: 光学 器件 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
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