[发明专利]自动测试方法、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210331658.5 | 申请日： | 2022-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN116935943A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 林韦成;邱多;边亚男 | 申请（专利权）人： | 富联精密电子（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 刘永辉 |
| 地址： | 300457 天津市滨*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种自动测试方法、设备及存储介质，自动测试方法应用于自动测试设备，自动测试设备包括测试主板和夹取装置，测试主板上开设有多个插槽，夹取装置用于将部件插接于插槽，自动测试方法包括：获取定位图像；分析定位图像中多个插槽的位置，生成路线信息；根据路线信息，控制夹取装置将多个部件插接于多个插槽；控制测试主板测试多个部件；确定是否存在故障的部件；若确定不存在故障的部件，则根据路线信息，控制夹取装置将多个部件插接于另外的插槽内，并重新控制测试主板测试多个部件。采用本申请的实施例，根据定位图像可以自动规划夹取装置的移动路线，以控制夹取装置自动将多个部件插接于多个插槽，提高操作的方便性。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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