[发明专利]芯片、误码率测试方法及电子设备在审
| 申请号： | 202210333608.0 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN116938352A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张嘉辉;许超 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100095 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明实施例提供了一种芯片、误码率测试方法及电子设备，涉及电子设备技术领域。芯片包括：误码率测试单元和被测接口模块，其中，被测接口模块包括串行器/解串器电路，所述串行器/解串器电路包括串行器和解串器；误码率测试单元用于生成串行测试数据，并向被测接口模块传输串行测试数据；被测接口模块用于向误码率测试单元传输串行测试数据经过串行器/解串器电路后的串行输出数据；误码率测试单元，还用于比较串行测试数据和串行输出数据从而得到比较结果，并根据比较结果计算被测接口模块的误码率。本发明实现了针对被测接口模块的片内误码率测试，无需额外配置用于向被测接口模块发送高频串行数据的外部设备，节约误码率测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 误码率 测试 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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