[发明专利]电路设计的覆盖率分析方法及系统在审
申请号: | 202210336777.X | 申请日: | 2022-03-31 |
公开(公告)号: | CN116933724A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 万泉;黄松 | 申请(专利权)人: | 苏州旗芯微半导体有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398;G06F11/36 |
代理公司: | 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 | 代理人: | 陆明耀 |
地址: | 215000 江苏省苏州市虎丘区高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供了一种电路设计的覆盖率分析方法及系统,所述方法包括:步骤一,针对设计文件,提取抽象描述文件和断言文件;步骤二,针对所述断言文件进行形式验证,确定所有未覆盖的断言,形成不可覆盖列表;步骤三,基于所述抽象描述文件对所述不可覆盖列表进行逻辑分析,找到不可覆盖的原因,形成报告文件。本发明所述电路设计的覆盖率分析方法及系统提高了效率。 | ||
搜索关键词: | 电路设计 覆盖率 分析 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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