[发明专利]一种芯片可测试设计的确定方法、设备和存储介质有效
| 申请号： | 202210343121.0 | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN114492265B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 魏星;刁屹;林德基 | 申请（专利权）人： | 奇捷科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308 |
| 代理公司： | 深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙) 44850 | 代理人： | 王淼 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福保*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于计算机技术领域，提供了一种芯片可测试设计的确定方法、设备和存储介质，所述方法包括：获取芯片的初始版本电路对应的寄存器传输级信息；获取所述芯片的目标版本电路对应的寄存器传输级信息；根据所述初始版本电路对应的寄存器传输级信息与所述目标版本电路对应的寄存器传输级信息，确定寄存器传输级差异信息组；根据所述寄存器传输级差异信息组以及所述初始版本电路，确定所述芯片的目标版本电路的可测试设计。本申请通过对前后版本电路的寄存器传输级信息的比对获得电路差异，并以之为准自动修改生成目标版本可测试设计，相较于人工更新可测试设计效率与准确率更高，有效降低了芯片版本更新的时间成本、简化了芯片版本更新的操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 设计 确定 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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