[发明专利]主被动成像探测系统及方法在审
| 申请号： | 202210350481.3 | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN114675264A | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 张卫杰;赵泽平;刘建国 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 孙蕾 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种主被动成像探测系统，包括：主动探测分系统，用于生成射频功率信号，包括：主动信号处理分机，用于生成中频发射信号；主动变频分机，与主动信号处理分机相连，用于对中频发射信号进行上变频处理，得到射频发射信号；主动射频前端分机，与主动变频分机相连，用于对射频发射信号进行功率放大，得到射频功率信号；主动探测天线，用于将射频功率信号对目标进行定向辐射；被动微波成像分系统，包括：接收阵列天线，用于接收目标反射的微波射频信号；被动接收机分机，用于对微波射频信号进行下变频处理，得到中频辐射信号；被动成像处理分机，用于对中频辐射信号进行高速采样和成像处理。 | ||
| 搜索关键词： | 被动 成像 探测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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