[发明专利]外壳污损缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210351179.X | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN114926675A | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 王祥;武占侠;吴在军;刘国川;张英 | 申请（专利权）人： | 深圳市国电科技通信有限公司;深圳智芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/764 | 分类号： | G06V10/764;G06V10/75;G06V10/80;G06V10/82;G06V10/44;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88;G01N21/94 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 邵泳城 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种外壳污损缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中方法包括：获取原始采样图像数据和标准模板图像数据；对标准模板图像数据进行透视变换，获得第一模板图像数据；对第一模板图像数据和原始采样图像数据分别进行预处理，获得第二模板图像数据和第一采样图像数据；将第二模板图像数据和第一采样图像数据输入多尺度差分RCNN模型进行检测，以确定外壳污损缺陷情况。由此，不仅提高了外壳污损缺陷检测的智能化程度、检测效率和检测准确率，还可以同时检测外壳的污损和缺陷情况。 | ||
| 搜索关键词： | 外壳 污损 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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