[发明专利]工件两侧轴孔外端面与轴线垂直偏差的测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210351970.0 申请日: 2022-04-02
公开(公告)号: CN114964063A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 夏豪杰;陈宝刚;许非凡;余鑫;李维诗;常松涛 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G06T7/00;G06T7/66
代理公司: 北京科名专利代理有限公司 11468 代理人: 陈朝阳
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种测量大型工件两侧轴孔外端面与轴线垂直偏差的装置与方法,该装置包括变焦光管及两个辅助测量工装,变焦光管具有激光投射聚焦和自准直测量两种模式,辅助测量工装包括旋转轴、定心探测器、平面反射镜、四维调整基座及径跳端跳测微头,辅助测量工装的作用是把轴孔及端面测量元素传递到旋转轴的定心探测器及平面反射镜上,便于实现光学测量,选取两侧轴孔中心连线作为测量基准,用定心探测器接收变焦光管投射激光光斑,把测量基准转移到光管光轴上,最后,通过光学自准直方法同时测量两轴孔端面与基准光轴的垂直偏差。该方法测量基准选取符合轴系实际应用,测量精度高,在位测量,操作方便,效率高。
搜索关键词: 工件 两侧 轴孔外 端面 轴线 垂直 偏差 测量 装置 方法
【主权项】:
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