[发明专利]缺陷报告的分配方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210357766.X 申请日: 2022-04-06
公开(公告)号: CN116932256A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 阿力木·木沙 申请(专利权)人: 深圳TCL新技术有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F17/16;G06F40/289;G06F40/30;G06N3/0464;G06N3/08
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨瑞
地址: 518052 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请公开了一种缺陷报告的分配方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:对待处理缺陷报告进行预处理;对预处理后的所述待处理缺陷报告进行向量提取,得到对应的向量矩阵;将所述向量矩阵输入至卷积层中,输出得到特征向量;根据所述特征向量,得到所述待处理缺陷报告对应的分配标识,并基于所述分配标识分配所述待处理缺陷报告。提高了缺陷报告的分配准确性和分配效率。
搜索关键词: 缺陷 报告 分配 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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