[发明专利]一种GaN基双沟道HEMT及其制备方法和应用在审

专利信息
申请号: 202210360444.0 申请日: 2022-04-07
公开(公告)号: CN114883403A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 李国强;曾凡翊;邢志恒;吴能滔;李善杰 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/40;H01L29/10;H01L21/335
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 齐键
地址: 510641 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种GaN基双沟道HEMT及其制备方法和应用。本发明的GaN基双沟道HEMT的组成包括依次层叠设置的衬底、成核层、缓冲层、GaN下沟道层、第一AlGaN势垒层、GaN上沟道层、第二AlGaN势垒层、GaN帽层和钝化层,缓冲层同一面的两端分别设置有源极金属电极和漏极金属电极,GaN下沟道层、第一AlGaN势垒层、GaN上沟道层、第二AlGaN势垒层、GaN帽层和钝化层均设置在源极金属电极和漏极金属电极之间,钝化层中还设置有至少部分嵌入钝化层的栅极斜场板和栅漏场板。本发明的GaN基双沟道HEMT的耐压和抗击穿性能强、可靠性高,适合进行大规模推广应用。
搜索关键词: 一种 gan 沟道 hemt 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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