[发明专利]半导体装置及其制造方法在审
申请号: | 202210361348.8 | 申请日: | 2022-04-07 |
公开(公告)号: | CN116936634A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 陈劲甫 | 申请(专利权)人: | 艾科微电子(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 顾丹丽 |
地址: | 518004 广东省深圳市罗湖区莲*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开半导体装置及其制造方法,包括基底、外延层、第一基体区、第一沟槽栅极结构、第一平面栅极、第一源极电极、第一源极区及漏极电极。外延层设置于基底上,第一基体区设置于外延层中,第一沟槽栅极结构设置于外延层中,沿着第一方向延伸且邻近第一基体区,第一平面栅极设置于外延层上,沿着第二方向延伸且至少部分位于第一基体区正上方,其中第二方向与第一方向间具有非零的夹角,第一源极电极设置于外延层上,且向下延伸至第一基体区中,第一源极区设置于第一基体区中,且至少部分邻接第一源极电极,漏极电极设置于基底下。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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