[发明专利]低功耗的多次可编程非易失性存储单元及其存储器在审
申请号: | 202210376684.X | 申请日: | 2022-04-11 |
公开(公告)号: | CN116935926A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 宁丹;王宇龙 | 申请(专利权)人: | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04;G11C16/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及多次可编程非易失性存储单元及其存储单元组和存储器,所述存储单元包含:一个深N阱,第一P阱、第二P阱、和第三P阱/或第一N阱,这些阱相互平行地位于所述深N阱中,控制电容和隧穿电容分别位于第一和第二P阱中,各自包含一个或两个位于所在P阱中的N型耦合区;一个浮栅晶体管位于第三P阱/或第一N阱中,该浮栅晶体管包含多晶硅浮栅及其下方的栅氧化物;所述浮栅晶体管的浮栅及其栅氧化物,沿垂直于上述P阱的平行方向,延伸至覆盖第一和第二P阱中的控制电容和隧穿电容,分别形成控制电容和隧穿电容的上极板和栅氧化物。所述存储单元的编程和擦除操作,均通过富勒‑诺德海姆隧穿进行,可以大幅度降低功耗,而且擦除效率高。 | ||
搜索关键词: | 功耗 多次 可编程 非易失性 存储 单元 及其 存储器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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