[发明专利]基于远场辐射功率诊断天线阵列失效单元方法在审

专利信息
申请号: 202210387619.7 申请日: 2022-04-14
公开(公告)号: CN114755502A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 张心怡;王伟;娄顺喜;王耀灵;王安鹏 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G06F30/20
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 徐瑶
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开的基于远场辐射功率诊断天线阵列失效单元方法,具体为:S1,初始化阵元工作状态向量;S2,对初始化后的阵元工作状态向量进行连续化处理;S3,根据阵列天线阵元选取规格,进行相应的建模及电磁仿真;S4,对S2的工作状态下的增益方向图进行计算,获得远场监测点处端面辐射功率参数;S5,计算监测点处端面辐射功率与测试所得的功率值的二范数值,构建表征函数;S6,判断计算得到的功率值的二范数值是否满足迭代次数要求,满足要求则输出当前阵元工作状态向量,否则,利用量子粒子群算法对阵元工作状态向量进行更新迭代;更新完成后重复S2至S6。该方法具有速度更快、对环境及设备要求更低。
搜索关键词: 基于 辐射 功率 诊断 天线 阵列 失效 单元 方法
【主权项】:
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