[发明专利]基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202210396555.7 | 申请日： | 2022-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN114820486A | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 张开生;关凯凯 | 申请（专利权）人： | 陕西科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/80;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 涂秀清 |
| 地址： | 710021 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法，包括：建立YOLOv5s算法的网络结构，在原有的三种检测尺度上再进行一次上采样添加小目标检测尺度；在网络模型末端用Transformer模块来替代CSP模块；建立基于改进YOLOv5s算法的PCB表面缺陷检测模型；根据PCB表面缺陷样本数据集，对基于改进YOLOv5s算法的PCB表面缺陷检测模型进行多尺度训练；将待检测PCB的图像输入预先训练好的基于改进YOLOv5s算法的PCB表面缺陷检测模型，输出待检测PCB表面缺陷的位置信息，本发明在一定程度上快速有效地检测出PCB缺陷，具有一定的先进性和实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 改进 yolov5s 印刷 电路板 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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