[发明专利]一种单像素光谱成像测量基自适应优化排序方法及系统在审
| 申请号： | 202210396581.X | 申请日： | 2022-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN114820283A | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 杨照华;赵梓栋;余远金;陈香;雷昊东;赵志浩;宋明悦;李平 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学;北京理工大学 |
| 主分类号： | G06T1/60 | 分类号： | G06T1/60;G06T3/40;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100082*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单像素光谱成像测量基自适应优化排序方法及系统，涉及单像素光谱成像领域，方法包括：获取图像数据集和第一参数；所述第一参数包括分辨率和采样率；根据所述分辨率构建Hadamard矩阵；对所述图像数据集进行预处理，得到数据矩阵；将所述数据矩阵和所述Hadamard矩阵相乘得到测量矩阵；将所述测量矩阵依次进行位置索引计算和拼接，得到索引矩阵；根据所述索引矩阵和所述第一参数确定索引向量；根据所述采样率、所述索引向量和所述Hadamard矩阵确定自适应编码矩阵。本发明通过对编码矩阵进行自适应优化来降低成像时间，提高成像和重构的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 像素 光谱 成像 测量 自适应 优化 排序 方法 系统 | ||
【主权项】：
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