[发明专利]一种均匀圆阵相关干涉仪测向方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210405530.9 申请日: 2022-04-18
公开(公告)号: CN114487993B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 乔立能;冯起;张吉楠;王萌 申请(专利权)人: 湖南艾科诺维科技有限公司
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14;G01S3/46
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 刘畅舟
地址: 410000 湖南省长沙市开福区伍家岭*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种均匀圆阵相关干涉仪测向方法及系统,方法包括以下步骤:接收被测信号,获取预先配置的测向阵元组合中各阵元的幅度信息向量,并根据幅度信息向量计算测向阵元组合中参考阵元之外的目标阵元与参考阵元的相对幅度,还根据幅度信息向量计算目标阵元与参考阵元的相位差信息;根据各相对幅度的值与预设区间的大小关系,判断是否存在遮挡阵元,若存在遮挡阵元,根据遮挡阵元对应的遮挡角度范围从相位差样本库中选取对应的第一相位差矢量,计算相位差信息与第一相位差矢量相关系数,相关系数的最大值对应的角度为被测信号的入射角。本发明能够准确判断均匀圆阵中各阵元相对于所接收的信号的遮挡情况,消除测向误差并且减小计算量。
搜索关键词: 一种 均匀 相关 干涉仪 测向 方法 系统
【主权项】:
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