[发明专利]性能分析方法、系统、设备及介质在审
申请号: | 202210412000.7 | 申请日: | 2022-04-19 |
公开(公告)号: | CN114780363A | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 韩磊 | 申请(专利权)人: | 重庆紫光华山智安科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G06F9/448 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 张双凤 |
地址: | 400700 重庆市*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明提出的一种性能分析方法、系统、设备及介质,该方法通过将预设采集函数分别注入分布式存储系统中多个待分析函数,通过一个或多个待检测线程调用至少一个待分析函数,基于预设采集函数获取各待检测线程的运行数据,分别根据待分析函数身份信息确定当前函数名和上层函数名,根据各待分析函数的调用关系数据分别生成各待检测线程的调用链,根据各调用链和各调用链对应的待检测线程的运行数据对分布式存储系统进行性能分析,通过统计各调用链的运行数据,并对其进行集中分析能够实现对分布式存储系统既支持单函数分析,也支持执行流分析,对分布式存储系统的性能损耗小,分析速度更快,对代码影响更小。 | ||
搜索关键词: | 性能 分析 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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