[发明专利]设备校验装置、数据校准方法及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210421581.0 申请日: 2022-04-21
公开(公告)号: CN114895123A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 李鑫 申请(专利权)人: 深圳市科陆精密仪器有限公司;深圳市科陆电子科技股份有限公司;深圳市科陆智慧工业有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R35/00
代理公司: 深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374 代理人: 姜宇
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种设备校验装置,应用于电子应用技术领域。本发明提供的设备校验装置包括:至少一个与被检测设备连接的钳表端,以及与所述钳表端连接的校准仪端。所述钳表端用于测量所述被检测设备的目标类型数据,以及存储校准系数;所述校准仪端用于从所述钳表端获取所述目标类型数据以及所述校准系数,并使用所述校准系数对所述目标类型数据进行修正。本发明还提供一种数据校准方法,应用于所述设备校验装置,所述方法包括:所述校准仪端发送校准系数读取命令至所述钳表端;所述钳表端接收所述校准系数读取命令,并返回预先存储的校准系数;所述校准仪接收所述校准系数,并根据所述校准系数对被检测设备的目标类型数据进行校准。
搜索关键词: 设备 校验 装置 数据 校准 方法 存储 介质
【主权项】:
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