[发明专利]闭孔式无场线扫描磁粒子成像装置、系统及方法有效
申请号: | 202210428837.0 | 申请日: | 2022-04-22 |
公开(公告)号: | CN114521883B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 田捷;何杰;惠辉;安羽;唐振超;钟景 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | A61B5/0515 | 分类号: | A61B5/0515 |
代理公司: | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人: | 郭文浩;尹文会 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于磁粒子成像技术领域,具体涉及一种闭孔式无场线扫描磁粒子成像装置、系统及方法,旨在解决现有的闭孔式三维无场线电扫描MPI设备的结构复杂、空间利用率低、功耗高等问题;其中装置包括梯度模块、扫描模块和感应模块,梯度模块用于构建、旋转无场线梯度磁场,以使远离无场线的磁纳米粒子达到饱和;扫描模块用于构建均匀磁场以控制无场线梯度磁场沿成像孔径向方向或轴向方向的平移运动;感应模块用于采集磁粒子的非线性响应信号;本发明实现了三维无场线电扫描磁粒子成像,成像的时、空分辨率和灵敏度高、不受组织深度限制,同时成像装置具有结构简单、空间利用率高、功耗低等优点。 | ||
搜索关键词: | 闭孔式无场线 扫描 粒子 成像 装置 系统 方法 | ||
【主权项】:
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