[发明专利]一种单像素探测边缘检测方法及设备在审

专利信息
申请号: 202210429222.X 申请日: 2022-04-22
公开(公告)号: CN115035140A 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 王英俭;时东锋;陈亚峰;黄见;苑克娥;杨威;令狐彬;乔春红 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G06T7/13 分类号: G06T7/13;G06V10/145
代理公司: 合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙) 34125 代理人: 郭华俊
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明属于计算成像和边缘检测领域,特别涉及一种单像素探测边缘检测方法及设备。所述边缘检测方法包括以下步骤:步骤S1:生成二维调制信息矩阵A,并将二维调制信息矩阵A平移一个单位得到二维调制信息矩阵B;步骤S2:分别使用二维调制信息矩阵A和二维调制信息矩阵B对照明光进行调制;步骤S3:分别探测两组调制后的照明光穿透目标物体或经目标物体反射后的光信号总强度值,得到两组光信号总强度值;步骤S4:根据两组所述光信号总强度值使用重建算法计算目标物体的边缘信息。本发明相比于传统利用图像来检测物体边缘,这种方法不需要重建物体的图像而直接得到物体的变换。
搜索关键词: 一种 像素 探测 边缘 检测 方法 设备
【主权项】:
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