[发明专利]AOI缺陷检测方法、装置和设备及计算机介质在审
| 申请号： | 202210438414.7 | 申请日： | 2022-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN114897801A | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 徐康;陈洪 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06K9/62;G06V10/764 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 张英 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种AOI缺陷检测方法，包括：获取待检测图像并进行ROI区域粗定位；基于语义分割模型对粗定位的ROI区域进行分割得到高精度区域；基于所述高精度区域分别进行检测模型预测和语义分割模型预测，分别得到缺陷区域的外接矩形区域和轮廓区域；将所述检测模型预测和所述语义分割模型预测的结果进行融合后输出；利用分类模型对输出的融合结果进行筛选得到目标缺陷检测结果。其可以解决现有技术中采用单一的深度学习算法模型难以达到较高的缺陷检出准确率及较低的缺陷误检率的问题。 | ||
| 搜索关键词： | aoi 缺陷 检测 方法 装置 设备 计算机 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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