[发明专利]一种中子谱仪准直器系统在审

专利信息
申请号: 202210439755.6 申请日: 2022-04-25
公开(公告)号: CN114779315A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 杜文婷;胡春明 申请(专利权)人: 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T3/00;G01N23/207;G01N23/20008;G01N23/00
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 郭燕;彭家恩
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种中子谱仪准直器系统,包括第一准直器、第一安装架和位姿调节装置,第一准直器设于样品中心点与中子探测器之间,第一准直器安装在第一安装架上,第一安装架安装在位姿调节装置上,第一准直器用于准直衍射中子束流,有效减少杂散中子进入中子探测器,同时位姿调节装置能够调节第一准直器的位姿,寻找衍射中子束流通量最大的位置,使得本底噪声降低,有效信号增强,信噪比增大,谱仪实验分辨率和精度增高。
搜索关键词: 一种 中子 谱仪准直器 系统
【主权项】:
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