[发明专利]一种样品芯片的电流测试系统在审
| 申请号： | 202210443704.0 | 申请日： | 2022-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN114910736A | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 陈尚立 | 申请（专利权）人： | 深圳市中科蓝讯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/28;G01R31/30;G01R19/00;H01L21/66;H03M1/12 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 常雪莹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区沙河街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施方式公开了一种样品芯片的电流测试系统，该系统包括：主控制终端、与主控制终端通信连接的级联单元以及与级联单元通信连接的若干个测试单元；其中，主控制终端用于下发采样指令和对采样电流进行数据处理；级联单元包括若干个子控制器；若干个子控制器级联连接以扩展测试通道的数量；每个测试单元具有多条相互独立的测试通道，用于获取位于测试通道的样品芯片的采样电流；其中，主控制终端下发的采样指令经由所述级联单元传递至对应的测试单元；采样电流经由级联单元传递至主控制终端进行数据处理。通过上述方式，本发明实施方式能够在烧录阶段批量测试样品芯片的功耗，避免了电流超标的不良样品芯片进入下一生产阶段，降低了返工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 样品 芯片 电流 测试 系统 | ||
【主权项】：
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