[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210453264.7 | 申请日： | 2022-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN114756473A | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 韩玉祥;梁雨霏 | 申请（专利权）人： | 中国银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F8/76 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100818 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开关于一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域，可以解决如何测试新旧系统的兼容性的技术问题。该方法包括：从数据资源池中，获取第一数据和第二数据，第一数据为第一系统运行时产生的数据，第二数据为第二系统运行时产生的数据，第一系统和第二系统为共同实现目标业务的两个系统；将第一数据输入到第二系统对应的测试环境中进行测试，得到第一测试结果，第一测试结果表征第二系统是否兼容第一系统；以及，将第二数据输入到第一系统对应的测试环境中进行测试，得到第二测试结果，第二测试结果表征第一系统是否兼容第二系统。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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