[发明专利]制作工艺、半导体存储器件及半导体工艺设备在审

专利信息
申请号: 202210467297.7 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114864816A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 王宽冒;赵可可;傅新宇 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;C23C14/00;C23C14/08;C23C14/35;C23C14/58
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 兰天爵
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种半导体存储器件的制作工艺、半导体存储器件及半导体工艺设备,该制作工艺包括:S100、在晶圆上溅射沉积底电极薄膜;S200、在底电极薄膜上溅射沉积一定厚度的富氧状态的阻变薄膜;S300、对富氧状态的阻变薄膜的预设厚度的部分进行还原,以使阻变薄膜的预设厚度的部分由富氧状态变为缺氧状态;其中,富氧状态的氧元素的含量大于缺氧状态的氧元素的含量;S400、循环执行步骤S200和S300,依次沉积多层所述阻变薄膜,直至多层阻变薄膜的总厚度达到第一厚度,以形成阻变层;S500、在所述阻变层上溅射沉积顶电极薄膜。上述方案能够解决半导体存储器件的性能较差的问题。
搜索关键词: 制作 工艺 半导体 存储 器件 工艺设备
【主权项】:
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