[发明专利]一种表面热电离质谱仪的设计方法在审
申请号: | 202210502531.5 | 申请日: | 2022-05-10 |
公开(公告)号: | CN114883173A | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 刘权卫;王志强;赵宇菲;张兆清;李思凡;马敬;于利祥;陈勇;侯留东;沈琛林 | 申请(专利权)人: | 中国核电工程有限公司 |
主分类号: | H01J49/06 | 分类号: | H01J49/06;H01J49/16;G01N27/64 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 罗建民;邓伯英 |
地址: | 100840 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种表面热电离质谱仪的设计方法,包括:初步设计离子透镜系统结构并进行三维建模,模拟从离子源产生的离子束经过离子透镜系统的离子聚焦状态,判断传输效果是否满足设计要求,若不满足,则修正其结构参数,并重新仿真,若满足,确定离子透镜系统的结构;初步设计离子光学系统结构并进行三维建模,模拟在设定加速电压时,从离子透镜系统中出来的不同质量的离子束进入离子光子系统的飞行偏转轨迹,判断聚焦效果是否满足设计要求,若不满足,则修正其结构参数,并重新仿真,若满足,确定离子光学系统的结构;进行离子接收器参数的设计。本发明为热电离质谱仪的设计和研制提供可靠的理论依据。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 电离 质谱仪 设计 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国核电工程有限公司,未经中国核电工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210502531.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于丝绢文物的光损伤测试方法
- 下一篇:插座连接器及电连接器组合