[发明专利]球面近场测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202210520370.2 申请日: 2022-05-13
公开(公告)号: CN114859141A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 张重阳;孔凡泉;黄文涛;盛永鑫;明章健;汪尊武;张再庆;陈旭;鲍房睿 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R29/08
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 闫客
地址: 230088 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种球面近场测试系统及测试方法,属于天线测试技术领域,所述系统包括探头阵列、方位转台、接收机和控制分机,被测天线固定在方位转台上,接收机用以为被测天线提供信号,控制分机用以控制方位转台移动;探头阵列呈螺旋式结构,其包括多个微波探头,相邻所述微波探头在俯仰方向按照第一角度间隔Δθ排列、在方位方向按照第二角度间隔排列,为固定角度间隔,Np为所述探头阵列中微波探头的数量。本发明通过设计螺旋式结构,在测试过程中,可保证每个探测的方位角完全一致,既保证了测试速度,又保证了测试定位精度。
搜索关键词: 球面 近场 测试 系统 方法
【主权项】:
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