[发明专利]一种电容老化检测设备及其检测工艺在审
| 申请号： | 202210527481.6 | 申请日： | 2022-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN114910673A | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 林翠华;余克壮;余远钦;雷彦林;吴文丽 | 申请（专利权）人： | 深圳市智胜新电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种电容老化检测设备，包括机柜、设置于机柜内部的老化机架以及放置于老化机架上的夹具，夹具上开设有供电容引脚插接的插孔，夹具的侧壁转动设置有夹片，夹片的中部设置有转动杆，转动杆与夹具转动连接，夹片的顶端抵接于插孔的孔壁，夹具内设置有用于令夹片与插孔的孔壁抵紧的弹性件，弹性件与夹片远离顶部的侧面抵接；地面上设置有工作台，工作台上设置有放置槽，放置槽的两侧伸缩设置有用于将夹片与插孔的孔壁分离的分离块，分离块与夹片背离弹性件的一侧抵接，工作台内设置有用于驱动分离块伸出放置槽的槽壁的驱动组件。本申请有利于减少人工掰开夹具的时间，提高了电容的老化效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 老化 检测 设备 及其 工艺 | ||
【主权项】：
暂无信息
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