[发明专利]基于飞秒激光的多孔源栅电极垂直晶体管阵列的制备方法在审
申请号: | 202210527745.8 | 申请日: | 2022-05-16 |
公开(公告)号: | CN114899107A | 公开(公告)日: | 2022-08-12 |
发明(设计)人: | 蒋杰;张艺;黄卓慧;银恺 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | H01L21/428 | 分类号: | H01L21/428;H01L21/8234 |
代理公司: | 长沙轩荣专利代理有限公司 43235 | 代理人: | 丛诗洋 |
地址: | 410000 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于飞秒激光的多孔源栅电极垂直晶体管阵列的制备方法,包括以下步骤:在导电衬底上磁控溅射半导体层,并在半导体上旋涂聚苯乙烯微球溶液;待聚苯乙烯微球溶液中的溶剂挥发后,在其上磁控溅射导体层,并用有机溶剂溶解聚苯乙烯微球,即可在导体层中形成多孔结构;采用飞秒激光按照预先设定好的图案对半导体层和含有多孔结构的导体层打穿形成沟槽,并将离子液滴入沟槽和覆盖离子液在部分含有多孔结构的导体层上;在未覆盖离子液的区域引出源极和栅极,并将源极所在单元对应的底部导电衬底作为漏极。本申请减少了图案化过程中的不确定因素,易于集成形成晶体管阵列,且图案化过程简单,可进行多样化图案设计。 | ||
搜索关键词: | 基于 激光 多孔 电极 垂直 晶体管 阵列 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中南大学,未经中南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210527745.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造