[发明专利]非等间距分布的多探头天线测试系统在审

专利信息
申请号: 202210528299.2 申请日: 2022-05-16
公开(公告)号: CN115219800A 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 张佳莺;陈宇钦;何丽华;袁国强;王琳 申请(专利权)人: 苏州益谱电磁科技有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 昆山中际国创知识产权代理有限公司 32311 代理人: 尤天珍
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种非等间距分布的多探头天线测试系统,转台驱动装置驱动测试转台绕竖直轴旋转,用于固定待测试天线的支撑抱杆同轴固定于测试转台上,多探头阵列环包括分布于以待测试天线中心为圆心的同一圆环上的顶探头、左半环探头和右半环探头,顶探头位于过圆心的竖直轴与圆环的交点处,左半环探头和右半环探头都等角间距的均匀排列,左半环相邻探头之间的夹角与右半环相邻探头之间的夹角相等,顶探头与相邻的左侧探头的夹角是顶探头与相邻右侧探头夹角的两倍,控制系统对顶探头、左侧探头和右侧探头传输的检测信号进行分析并控制转台驱动装置启停,本发明在不改变探头数量的情况下,增加采样密度,提高测试精度。
搜索关键词: 间距 分布 探头 天线 测试 系统
【主权项】:
暂无信息
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