[发明专利]一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法在审
| 申请号： | 202210538808.X | 申请日： | 2022-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN114965315A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 杨海清;陈池威;倪江华;屈黎黎;李卓航;宋康磊 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G06Q10/06;G06F16/21;G06N3/08 |
| 代理公司： | 重庆智慧之源知识产权代理事务所(普通合伙) 50234 | 代理人： | 余洪 |
| 地址： | 400038 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法，包括：采集待评估区域的高光谱信息，获取高光谱数据并存储；在已评估区域中选取特定区域及对应的高光谱数据和损伤劣化等级，根据损伤劣化等级，对特定区域岩体的高光谱数据添加损伤劣化标签，获取原始评估数据库；提取特定区域高光谱数据的光谱吸收特征参数，根据光谱吸收特征参数和损伤劣化标签构建新样本评估数据库；根据随机森林算法构建岩体损伤评估模型，采用新样本评估数据库，对岩体损伤评估模型进行训练和优化；将待评估区域的高光谱数据导入优化后的岩体损伤评估模型，获取待评估区域的岩体损伤劣化等级。本发明实现了大面积岩体损伤劣化的像素级快速评估，且评估精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 成像 损伤 快速 评估 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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