[发明专利]一种GaN开关应力测试系统及电子设备在审
| 申请号： | 202210541141.9 | 申请日： | 2022-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN114646873A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 张孟文;尚昌立;吴俊峰;徐显修 | 申请（专利权）人： | 深圳市时代速信科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 姚大雷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种GaN开关应力测试系统及电子设备，所述应力测试系统包括：高压电源单元、驱动信号单元、第一采样电阻、第二采样电阻和反馈监测单元；所述高压电源单元将初始高压直流电信号处理成目标高压直流电信号，并向所述GaN开关的漏极提供所述目标高压直流电信号。所述驱动信号单元将初始驱动信号处理成目标驱动信号，并向所述GaN开关的栅极提供所述目标驱动信号。本发明提供的测试系统能够持续为GaN开关提供高应力，从而提高GaN开关的检测精度，分别在所述GaN开关的栅极和源极设置第一采样电阻和第二采样电阻，以及用于监测异常状态的反馈监测单元，从而能够在GaN开关工作异常时，及时对测试系统进行保护。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 gan 开关 应力 测试 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
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