[发明专利]光电式接近传感器系统和光电式接近检测方法在审
申请号: | 202210544249.3 | 申请日: | 2018-05-14 |
公开(公告)号: | CN114966720A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 孙志强;李海;章云区;张仰鹏;于海涛 | 申请(专利权)人: | ABB瑞士股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/483 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 闫昊 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开的实施例涉及光电式接近传感器系统和光电式接近检测方法。根据一些实施例,一种光电式接近传感器系统包括:壳体,其上开有导光通路;布置在壳体内的指示灯,其通过导光通路向壳体外部发射指示光信号;布置在壳体内的光源,其通过导光通路向壳体外部发射检测光信号;布置在壳体内的检测元件,其接收被接近物体所反射的并且通过导光通路进入壳体的检测光信号。根据一些实施例,提供了一种光电式接近检测方法。该方法包括:测量检测区域反射光强并且与之同步测量检测区域环境光强;以及基于所述检测区域反射光强的测量值和所述检测区域环境光强的测量值,产生响应于物体接近程度的输出。 | ||
搜索关键词: | 光电 接近 传感器 系统 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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