[发明专利]测试元件组和测试方法在审
| 申请号： | 202210557858.2 | 申请日： | 2022-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN115407177A | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 金政河;姜东洙;李在鹏 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜;王占杰 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了测试元件组(TEG)和测试方法，所述TEG与晶片上的至少一个存储器芯片相邻设置，所述TEG包括：环形振荡器，所述环形振荡器被配置为基于通过第一焊盘并从测试装置接收到的直流(DC)信号输出时钟信号；第一分频器，所述第一分频器被配置为对所述时钟信号进行分频并输出第一分频信号；以及时序电路组，所述时序电路组被配置为接收所述时钟信号和所述第一分频信号，基于所述时钟信号和所述第一分频信号生成测试信号，并且通过第二焊盘将所述测试信号输出到所述测试装置。所述时序电路组包括具有与包括在所述至少一个裸片中的至少一个电路相对应的配置的时序电路。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 元件 方法 | ||
【主权项】：
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