[发明专利]基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法在审

专利信息
申请号: 202210563948.2 申请日: 2022-05-23
公开(公告)号: CN114897855A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 柯艳国;赵恒阳;赵常威;杨为;黄伟民;谢佳;谢铖;吴正阳;张国宝;钱宇骋;王署东;曾德华;杨焘 申请(专利权)人: 国网安徽省电力有限公司;国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;四川赛康智能科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/62;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 成都中络智合知识产权代理有限公司 51300 代理人: 喻依丰
地址: 230000 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请公开了基于X射线图片灰度值分布判定缺陷类型的方法,输入待检测X射线图片Pic1,建立OUV像素坐标,读取兴趣区域内任一个像素点的像素坐标pn(ux,vy);读取灰度值为Cr的像素点确定图像斑块Kr,并对图像斑块Krm进行选择性部分腐蚀和重新赋值操作,并输入经训练完毕的对抗网络模型中进行判别并输出结果信息。本发明通过对缺陷图像斑块边界具有的无序性特性进行提取,同时加入缺陷图像斑块的像素面积与总面积的占比,以及缺陷图像斑块周围像素灰度值的一致性评价,再融合对抗网络模型进行判别,能够极大程度上精准判别缺陷的真实性和曲线类型的准确性。
搜索关键词: 基于 射线 图片 灰度 分布 判定 缺陷 类型 方法
【主权项】:
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